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用于智能化工廠高速檢測的共焦線傳感器
借助 CHRocodile CLS 2.0，您能夠以很高的速度測量高斜率和復雜的表面并且避免陰影。高速 3D 共焦線傳感器幾乎可以對所有材料，甚至是難以測量的材料
進行高度精 確的測量，并且分辨率很高。
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其通用性確保能夠合格完成各種測量。更重要的是，CHRocodile CLS 2.0 還有助于降低運營成本，節省時間，并確保工業 4.0 應用中的 100% 控制。
除此之外還有*重要的一項優勢，那就是高速 3D 共焦線傳感器 CHRocodile CLS 2.0 比其他替代設備更小、更輕。
在半導體行業的應用: 引線鍵合檢測、凸點測量、包裝晶圓邊緣檢查、切割槽檢查、缺陷、裸片裂縫、光掩膜光刻。
在消費電子領域的進一步應用: 外殼形貌檢查，輕微、中等和高度彎曲表面的檢查、倒角和轉角檢查、直徑/孔/梯形表面檢查、特殊高度物體的外觀檢查。
優勢
——高速度、高精度
憑借 2,160 萬個測量點和每秒高達 36,000 行的掃描速度，CHRocodile CLS 2.0 非常適合對周期時間要求極高的在線質量控制應用。同時，這種傳感器提供的數據具有非常高的橫向和軸向分辨率，可實現精準測量。
——高度靈活
這種共焦線傳感器的通用性可滿足各種測量需求，例如，形貌結構和厚度測量、成分、分層、透明材料下的表面，以及復雜的幾何形狀。即使是難以測量的材料，例如漫反射、粗糙、彩色、拋光或反射表面，CHRocodile CLS 2.0 也能高速地進行準確測量。
——無陰影
CHRocodile CLS 2.0 的線性結構與入射光和反射光重疊。因此，在測量特定的幾何形狀時，不會出現任何問題，而三角反射測量則會出現陰影問題。
——易于更換的光學探頭
該傳感器配置了三個易于更換的光學探頭，僅需輕松轉換即可使用合適的探頭。您可以選擇*長達12 mm 線程的探頭，用于大型部件的快速檢測，或者選擇優 質數值孔徑的短線，用于測量高度傾斜的表面，例如測量智能手機、電池或手表顯示玻璃的倒角。
——點密度高
CHRocodile CLS 2.0 以每行 1,200 個點的密度來掃描物體。結合與像素間距相當的橫向高分辨率和良好的軸向分辨率，可以獲得高密度的必要信息和優 質的測量結果。
技術數據
測量速度：*高每秒 36,000 行
測量范圍：680 - 10600 μm*
橫向分辨率：1 - 8.5 μm*
與外部設備同步：觸發輸入，同步輸出，5 個編碼器輸入，動態鏈接庫 (DLL) 示例代碼
* 具體取決于使用的光學探頭